目前SIKORA将于K2019推出的新品亮点

SIKORA将于K 2019推出的新品亮点一览

于2019年10月16日至23日举行的K 2019期间，SIKORA(10号展厅，H21展位)为软管和管材、板材以及塑料行业推出了一系列用于质量控制和工艺优化的广泛创新系统组合。

访客可以携带他们的塑料颗粒在科学测验系统PURITY CONCEPT V.进行现场测试和分析。

在“Innovation Corner”区域， SIKORA也欢迎访客就他们关于软管、管材测量技术以及塑料应用提出创意见解。

CENTERWAVE6000 ——用于测量直径达1,600mm的软管和管材

CENTERWAVE 6000/1600的全球首发，意味着SIKORA推出了一个全新尺寸的测量系统。该系统专门用于挤出过程中塑料管和管道的质量控制。

基于其独特设计，该系统可精确测量直径为630至1,600 mm的管材。CENTERWAVE 6000是基于创新的毫米波技术，可以连续、完整其质量肯定会有1定的保证、360度地测量管道周长、壁厚、直径、椭圆度、内型和下垂度。

“CENTERWAVE 6000令人惊叹的不仅是其测量尺寸，”SIKORA软管和管材销售业务负责人Christian Schalich表示，“最重要的是由于挤出工艺技术带来的好处。”

CENTERWAVE 6000透过毫米波技术测量大管道

该系统可快速实现标称尺寸、没有启动废料，带来最高质量保证和流程最佳控制。此外，不需要任何耦合介质，可以精确且独立地测量，不受外部影响，例如温度或塑料材料等，并且不需要校准。

“此外，该设备自动确定了精确的折射率”，Schalich说。它确定了强度，以及辐射穿过材料的速度，因此对测量精度起决定作用，无须手动输入生产条件的更改数据。 Schalich又补充道：“操作员可以从系统中获益，因为该系统集成在生产线中，在启动后直接提供可靠且可重复的测量值”。

PLANOWAVE6000可用于测量板材挤出厚度

由于SIKORA的PLANOWAVE 6000是一种非接触式测量系统，因此可用于塑料板材挤出过程中的无损厚度测量。该系统可测量由工程塑料如POM等和高性能塑料如PEEK等制成的板材。

PLANOWAVE 6000还适用于透明和合成塑料的测量，如PMMA和PVC-FOAM，以及玻璃。

该测量方法基于毫米波技术，具有极高的测量精度，不受板材的材料和温度影响。也不需要对材料进行校准。

PLANOWAVE 6000可以在热或冷的位置直接集成到生产线中。测量值结果可在处理器系统ECOCONTROL 6000的监视器上实时显示。

PLANOWAVE 6000可测量由技术塑料如POM等和高性能塑料如PEEK等制成的板材厚度，以及透明塑料如PMMA和PVC-FOAM，以及玻璃

PURITYCONCEPTV.：带有颜色检测的光学实验室测试系统

SIKORA还推出了一种用于塑料材料测试的光学实验室测试系统 —— PURITY CONCEPT V.。

该系统是一个自动光桌，塑料颗粒放置在样品托盘上，通过检查区域移动。数秒钟内，材料就由一部彩色相机完成了检查。

投影仪在样品盘上直接用光学的方法标记了所有受污染的颗粒。通过评估图像，可对50m大小的透明、漫射和着色材料表面上的污染物，例如黑色斑点等进行自动检测、检视和数据分析，并且可随时确定污染分布和进行后续检查。

光学实验室测试系统的另一个特色就是自动检测颗粒的颜色偏差。

PURITY CONCEPT V.用于塑料颗粒的光学样品测试。它可以从中检测黑色斑点

PURITYCONCEPTV.：进行现场材料检测

“让技术变得生动起来”是SIKORA K展位的核心主题。PURITY CONCEPT V.将提供在实验室环境下的现场材料测试服务。

SIKORA在展会前已经邀请客户寄送颗粒样品，届时直接在展位上使用PURITY 依托铝合金新材料和新技术优势CONCEPT V.进行检测和分析。又或者，访客可以携带少量塑料颗粒直接到展位进行检测和评估。

“实时的颗粒测试是证明系统工作的最佳方式，并能够直观地提供产品优势的信息”，SIKORA区域塑料业务开发和区域销售经理Hilger Gro表示。 “透视现场演示，客户可以亲身体验系统的精确性、速度和易操作性。”Gro解释道。

PURITYCONCEPTX：采用X射线技术检测金属污染

此外，SIKORA还展示了基于X射线的实验室设备PURITY CONCEPT X，用于检查彩色颗粒中的金属混合物，而这些夹杂物在光学系统中是不可见的。

SIKORA PURITY CONCEPT X的自动化操作原理于2016年就已推出，如今已成为SIKORA实验室测试系统的基础组成。

由于采用了X射线技术，该系统还可检测颗粒表面和内部的污染。“PURIT3D打印进程通常比其他情势的制造更合适环境Y CONCEPT X尤其适合黑色和彩色材料的样品检测。此外，我们还可看到其用于高压电缆绝缘的半导体材料的应用潜能。另外，金属污染，例如由挤出机中的金属磨损引起的塑料颗粒金属污染也能够可靠地被检测出来和实现全面分析。”HilgerGro解释说。

基于X射线的PURITY CONCEPT X可离线检测出塑料颗粒内部的金属污染物

PURITYSCANNERADVANCED：光学检测和分拣

SIKORA展台的另一个亮点：PURITY SCANNER ADVANCED，用于光学检测和塑料材料分类的系统。

该系统将X射线技术与多达四个黑白和/或彩色相机相结合。这种组合可确保检测出颗粒内部的金属污染、颜色偏差及表面上的黑色斑点。受污染的颗粒被检测到后就会被自动分拣出来。

凭借强大的处理器系统和智能软件，PURITY SCANNER ADVANCED可谓一款可靠的质量检测设备。

专业数据分析管理(PDAM)按生产过程中污染物的尺寸和频率分类，以并改进现有方法及结合光学相机和X射线照相机检测到的颗粒图像库，对检测到的污染物进行统计评估。

“关于对材料纯度的质量要求正在增加。因此，检测和分类具有进一步的意义。PURITY SCANNER ADVANCED是市场上同类产品中极为有效的分拣系统。” HilgerGro说。

而对于高物料吞吐量，该分拣系统可用作“Twin Pack”解决方案提供，该解决方案也将首次在K2019上展示。

Twin Pack系统特别适用于光学分拣和应用，其重点是更高的吞吐量。 Twin Pack的吞吐量可达到每小时2吨

“InnovationCorner”客户互动交流——碰撞出未来创新测量技术

SIKORA致力于将创意转化为实实在在的创新和新产品开发，从而为软管和管材、板材以及塑料行业提供高质量的产品、实现工艺优化和成本效益。

SIKORA在K2019上透过 “创意角”(Innovation Corner)强调了这一点。该公司邀请客户亲自与SIKORA研究和开发专家一起，透过创意分享和头脑风暴，讨论他们对测量技术未来质量控制系统的见解、需求和技术要求。